Выпуск: 6 , Том: 24 , Год издания: 1983

Определяются проводимость, размеры и глубина залегания тонкого ограниченного пласта, залегающего в высокоомной среде, с помощью данных, полученных при измерении становления поля, возбуждаемого кабелем. Если рыхлые отложения отсутствуют, пласт может иметь произвольный угол наклона, при перекрывающем проводящем слое пласт считается горизонтальным.